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| Nombre | ANGELICA MARIA GARZON FONTECHA |
|---|---|
| Área | INGENIERÍAS Y DESARROLLO TECNOLÓGICO |
| Campo | CIENCIAS TECNOLÓGICAS |
| Disciplina | TECNOLOGÍA DE MATERIALES |
| Especialidad | DISEÑO DE MATERIALES |
| CVU | 616434 |
| Institución | |
|---|---|
| Tipo de institución | Pública |
| Dependencia | INSTITUTO TECNOLOGICO DE TIJUANA |
| Entidad | BAJA CALIFORNIA |
| Nivel | 1 |
| Vigencia | Inicio: 01/01/2022 |
| Fin: 31/12/2028 |
Evolución en el SNII
- Nivel I: 2022–2026
Publicaciones ORCID
- 2023
- Electrical Properties of a p‐SnOx/n‐SnOx Diode on a Flexible Polyimide Substrate physica status solidi (a) · ISSN 1862-6300
- 2020
- SnO x thin films with tunable conductivity for fabrication of p–n homo‐junction Surface and Interface Analysis · ISSN 0142-2421
- 2019
- Compositional and electrical properties of Cr, Nb, Cr/Nb, CrNbN, and CrN/NbN multilayers grown using the d.c. magnetron sputtering technique Surface and Interface Analysis · ISSN 0142-2421
- Structural, morphological and surface properties of the samarium modified BiFeO3 perovskite Journal of Physics: Conference Series · ISSN 1742-6588
- Graphene role in improved solar photocatalytic performance of TiO2-RGO nanocomposite Chemical Physics · ISSN 0301-0104
- Correlation Between Stoichiometry of NbxNy Coatings Produced by DC Magnetron Sputtering with Electrical Conductivity and the Hall Coefficient Coatings · ISSN 2079-6412
- 2018
- The role of the nitrogen flow rate on the transport properties of CrN thin films produced by DC magnetron sputtering Surface and Coatings Technology · ISSN 0257-8972
- 2017
- Electrical, optical, and structural characterization of p-type N-doped SnO thin films prepared by thermal oxidation of sputtered SnNx thin films Surface and Interface Analysis · ISSN 0142-2421
- Influence of annealing temperature on nickel oxide thin films grown by chemical bath deposition Materials Science in Semiconductor Processing · ISSN 1369-8001
- 2015
- Radiation grafting of pH-sensitive acrylic acid and 4-vinyl pyridine onto nylon-6 using one- and two-step methods Radiation Physics and Chemistry · ISSN 0969-806X
