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| Nombre | FRANCISCO CRUZ GANDARILLA |
|---|---|
| Área | INGENIERÍAS Y DESARROLLO TECNOLÓGICO |
| Campo | CIENCIAS TECNOLÓGICAS |
| Disciplina | SIN INFORMACIÓN |
| Especialidad | CARACTERIZACION MEDIANTE DRX Y SEM |
| CVU | 19283 |
| Institución | |
|---|---|
| Tipo de institución | Pública |
| Dependencia | UNIDADES ACADEMICAS DE NIVEL SUPERIOR |
| Entidad | CIUDAD DE MEXICO |
| Nivel | 1 |
| Vigencia | Inicio: 01/01/2020 |
| Fin: 31/12/2034 | |
| Categoría: | EXTENSION 15 AÑOS |
Evolución en el SNII
- Nivel I: 2000–2007
- Nivel II: 2008–2016
- Nivel I: 2017–2026
Publicaciones ORCID
- 2019
- Study of recovery and first recrystallisation kinetics in CGO Fe3%Si steels using misorientation‐derived parameters (EBSD) Journal of Microscopy
- Optimization of CdxZn1-xS compound from CdS/ZnS bi-layers deposited by chemical bath deposition for thin film solar cells application Thin Solid Films · ISSN 0040-6090
- 2018
- Simultaneous XEDS‐EBSD Study of NiCoAlFeCu(Cr,Ti) Multi‐Component Alloys Advanced Engineering Materials
- Special Section on Texture and Microstructure Advanced Engineering Materials · ISSN 1438-1656
- 2017
- Synthesis of Gallium Nitride and Related Oxides Via Ammonobasic Reactive Sublimation (ARS) Materials Research · ISSN 1980-5373
- 2016
- Microstructural evolution and mechanical properties on an ARB processed IF steel studied by X-ray diffraction and EBSD Materials Characterization
- CdTe:Bi films deposited by closed space vapor transport under variable pressure and doping levels: evidences of the possible formation of an intermediate band Journal of Materials Science: Materials in Electronics · ISSN 0957-4522
- Optimization of CBD-CdS physical properties for solar cell applications considering a MIS structure Materials & Design · ISSN 0264-1275
- 2015
- EBSD characterization of an IF steel processed by Accumulative Roll Bonding 17th International Conference on Textures of Materials
- 2012
- Structural and microstructural characterization of Bi2Te3 films deposited by the close space vapor transport method using scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques Thin Solid Films · ISSN 0040-6090